NIBJ-2948A晶閘管綜合參數測試儀|晶閘管參數測試係統產品簡介：
晶閘管參數測試係統是用於測量晶閘管的通態、斷態、控製常用靜態參數的綜合性參數測量儀器。測試原理及方法依據GB/T 15291-94《半導體器件 第六部分 晶閘管》。此係統可以快速、準確、麵的對晶閘管進行參數測試和分析測試。**適合器件生產廠家、監測部門和使用廠家進行生產測試、評估、入廠檢驗和性分析測試。
目前對晶閘管參數的測試基本上還是采用指針式儀表和手動操作，此方法讀數慢而且不夠準確，操作也比較繁瑣，不能適應目前自動化、大規模的生產方式。硬汉视频在线官网下载免费版研製的晶閘管參數測試係統采用主從式設計，儀器采用***微控製器控製，配備大液晶顯示器，可以*立工作；也可以使用PC機控製操作，使用*加方便。
晶閘管綜合參數測試儀參數：
控製觸發電壓VGT
測量範圍：0～2.5V
測量誤差：≤±3%
控製觸發電流IGT
測量範圍：0～500mA
測量誤差：≤±3%
維持電流IH
測量範圍：0～500mA
測量誤差：≤±3%
通態峰值電流ITM
測量範圍：0～200A
測量誤差：≤±5%
通態峰值電壓VTM
測量範圍：0～2.5V
測量誤差：≤±5%
斷態重複峰值電壓VDRM
測量範圍：0～2000V
測量誤差：≤±5%
斷態重複峰值電流IDRM
測量範圍：0～10mA
測量誤差：≤±5%
反向重複峰值電壓VRRM
測量範圍：0～2000V
測量誤差：≤±5%
反向重複峰值電流IRRM
測量範圍：0～10mA
測量誤差：≤±5%
晶閘管綜合參數測試儀注意事項：
1.測試結束將軟件關閉，關閉機器電源，從測試盒上拔下器件。
2.器件連續測試時，中間需要間隔幾秒鍾。某些器件的VDRM和VRRM值較高（例如高於1000V），那麽這兩個參數需要單*測量，否則幹擾比較大。
3.儀器如果長期閑置，請每周開機一到兩次，每次半小時。