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    半導體導電型號鑒別儀
    半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別矽單晶材料的導電類型 “P”和 “N”的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結合綜合性的測量導電型號儀器,測量範圍廣矽材料電阻率從10 -4~10 3Ω?cm,儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路，將材料上的微弱信號放大，並用 “P” “N”數碼直接顯示，儀器采用手持式四探然探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研部門需要。
    用作太陽能多晶材料分選時,采用整流法,對<0.1Ω-cm的材料具有聲光報警功能,**應用於太陽能電池生產的原材料篩選環節,快速**。
    指標：
    測量範圍：矽單晶材料電阻率10 -4~10 3Ω?cm
    溫 差 法：10 -4~10Ω?cm
    整 流 法：10~10 3Ω?cm，並對<0.1Ω?cm的材料具有聲光報警功能。
    可測量材料：半導體矽棒和矽片，及矽碎顆粒。
    可測半導體材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
    顯示方式：P、N 燈顯示。
    測試探頭：手持式 探針間距3mm 探針Φ1mm 高速鋼
    電    源：220V 50HZ 20W
    儀器尺寸：100×260×260
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