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    兩探針電阻率測試儀
    GDS/KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國，標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合於測量橫截麵麵積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如矽芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等)的電阻率，測樣長度與截麵，尺寸之比應不小於3：1。由於兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截麵的平均電阻率，兩探針法的測量精度一般優於四探針法。
    整套儀器有如下特點
    1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數字表（以**之幾的精度）適時監測，過程中的電流變化，使操作%方便，測量%，。
    數字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ
                            基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
    2、可測電阻率範圍：0.005—50000Ω·cm。
    3、測量電流由高度穩定（**之幾精度）的**恒流源提供，不受氣候條件的影響。
    電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調節範圍從0.001~100mA
    4、儀器采用觸點電阻%低（＜5mΩ）、使用壽命%長的轉換開頭及繼電器（＞10%），在，緣電阻、電流容量方麵留有%大的，係數，提高了測試儀的，性和使用壽命。
    5、可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現自動換向測量、求平均值，計算並打印電阻率，值、，值、，百分變化率、平均百分變化率等內容。
    6、可加配電腦，實現數據采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲並打印電阻率，值、，值、，百分變化率、平均百分變化率等內容。
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