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    HFGS-6341電子薄膜應力分布測試儀
    電子薄膜應力分布測試儀產品簡介：
    該產品主要應用在微電子、光電子生產線上和科研、教學等領域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件麵形和平整度麵形、 基片曲率半徑測量測試。該儀器總測量點數多，能給出場麵型分布結果，適合於微電子生產線上產量的快速檢驗和微電子生產研究。
    儀器基於幹涉計量的場測試原理，可實時觀測麵型的分布，迅速了解被測樣品的形貌及應力集中位置，及時淘汰早期失效產品。
    電子薄膜應力分布測試儀功能特點：
    1.創的錯位相移
    2.計算機自動條紋處理
    3.測試過程自動
    4.的曲麵補償測試原理
    電子薄膜應力分布測試儀參數：
    樣品尺寸：≤100mm (4英寸)
    曲率範圍：|R|≥5米
    測試精度：5%
    單片測量：3分鍾/片
    結果類型：麵形、曲率半徑、應力分布、公式表示、數據表格
    圖形顯示：三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截麵曲線顯示
    電        源：AC 220V±10%, 50Hz±5%
    功耗：100W
    外型尺寸：285×680×450mm
    重        量：36kg
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