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    產品資料

    ZH221四探針電阻率/方阻測試儀

    如果您對該產品感興趣的話,可以
    產品名稱: ZH221四探針電阻率/方阻測試儀
    產品型號: ZH221
    產品展商: ghitest
    產品文檔: *相關文檔

    簡單介紹

    嚴格按照矽片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計製造，並針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進 是用來測量半導體材料（主要是矽單晶、鍺單晶、矽片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。


    ZH221四探針電阻率/方阻測試儀  的詳細介紹

    產品簡介：

    嚴格按照矽片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計製造，並針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進

    是用來測量半導體材料（主要是矽單晶、鍺單晶、矽片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
    本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以**之幾的精度）適時監測程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，*及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，*好地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小遊移四探針頭”，探針遊移率在0.1～0.2%。了儀器測量電阻率的重複性和準確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量矽片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，並計算、打印出矽片電阻率、徑向電阻率的百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。
    2、主機能數
    （1）測量範圍：
    可測電阻率：0.0001～19.9999cm
    可測方塊電阻：0.0001～1000Ωcm
    （2）恒流源：
    輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調
    量程：0.001～0.01mA
    0.01～0.10mA
    0.10～1.0mA
    1.0～10mA
    10～100mA
    恒流精度：各檔均低於±0.05%
    （3）直流數字電壓表：
    測量範圍：0～19.999mV
    靈敏度：1μV
    基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
    輸出電源：≥1000ΩM
    （4）供電電源：
    AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
    （5）使用環境：
    溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
    *較強的電場幹擾，*強光直接照射
    （6）重量、體積：
    主機重量：7.5kg
    體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度） 
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