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    產品資料

    WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本

    如果您對該產品感興趣的話,可以
    產品名稱: WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本
    產品型號: WBLH-200J
    產品展商: 其它
    產品文檔: *相關文檔

    簡單介紹

    本儀器采用了渦流測厚方法，可*損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺琅、相交、油漆、塑料等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。


    WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本  的詳細介紹
    產品簡介
       本儀器采用了渦流測厚方法，可*損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺琅、相交、油漆、塑料等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
    測定方法:高頻渦流式 
    測定對象:非磁性金屬上*緣層 
    測定範圍:電磁式：0～800um或0～32.0mils
    測定精度:<50um±1um  >50um±2%
    分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
    界限設定:可設定上/下限數值 
    測試單位:公/英製互換 
    顯示方式:LCD數顯 
    操作麵板:密封*水按鍵 
    附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 
    電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個 
    體積:80(W)×80(D)×30(H) 
    重量:1100g
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