ZH8204數字式矽晶體載流子複合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）
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產品名稱: ZH8204數字式矽晶體載流子複合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）
產品型號: ZH8204
產品展商: ghitest
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簡單介紹
本設備是按照標準GB/T1553“矽單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計製造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟的測試方法，**適合於矽塊、矽棒的少子體壽命測量；也可對矽片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表麵的要求為研磨麵，因此製樣**簡便。
ZH8204數字式矽晶體載流子複合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）
的詳細介紹
產品簡介:
100C型200型的的區別隻是紅外激光管的功率大了一倍，加了個紅外地光照破除陷進效應
τ:1～6000μs ρ＞0.1Ω·cm太陽能矽片壽命，配已知壽命樣片、配數字示波器，
本設備是按照標準GB/T1553“矽單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計製造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟的測試方法，**適合於矽塊、矽棒的少子體壽命測量；也可對矽片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表麵的要求為研磨麵，因此製樣**簡便。
產品特點：
可測量太陽能多晶矽塊、單晶矽棒少數載流子體壽命。表麵*需拋光，直接對切割麵或研磨麵進行測量，儀器可按需方提供的有標稱值的校準樣品調試壽命值。
可測量太陽能單晶及多晶矽片少數載流子的相對壽命，表麵*需拋光、鈍化。
液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時在線顯示光電導衰退波形。
配置的紅外光源：0.904～0.905μm波長紅外脈衝激光器，光穿透矽晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利於測量低阻太陽能矽晶體少數載流子體壽命，脈衝功率30W。
為消除陷進效應增加了紅外低光照。
測量範圍寬廣
測試儀可直接測量：
a、研磨或切割麵：電阻率≥0.5Ω?cm的單晶矽棒、定向結晶多晶矽塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。
b、拋光麵：電阻率在0.5～0.01Ω?cm範圍內的矽單晶、鍺單晶拋光片。
範 圍：0.5μs~6000μs
電 阻 率：ρ﹥0.1Ω·cm（非回爐料）
測試速度：1分鍾/片
紅外光源波長： 0.904～0.905μm
高頻振蕩源：用石英諧振器，振蕩頻率：30MHZ
前置放大器，放大倍數約25，頻寬2HZ-2MHZ
可測單晶尺寸：斷麵豎測：
直徑25mm-150mm；厚度2mm-500mm
縱向臥測：直徑5mm-20mm；長度50mm-200mm
測量方式：采用數字示波器直接讀數方式
測試分辨率：數字存儲示波器分辨率0.01μs
設備重量：20 Kg
儀器電源：電源電壓類型：單相210～230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩壓，不能與未做保護措施的大功率、高頻設備共用電源。