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產品名稱: NGZL-203型四質譜計_四杆質譜儀
產品型號: NGZL-203型
產品展商: ghitest
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簡單介紹
四質譜計是在高真空條件下,離子源的電子轟擊氣體分子使其離化。離子進入四過濾器按不同質荷比分離,采集離子流,放大後進行數據處理,獲得相應的質譜數據。四質譜計可安裝在使用者的高真空設備上進行殘氣分析,亦可配備適當的高真空係統和進樣裝置作為*立的硬汉视频最新官网器使用。離子流采集的常規結構為法拉弟筒 / 通道倍增器複合式(即 FC/CEM )。
NGZL-203型四質譜計_四杆質譜儀
的詳細介紹
四杆質譜儀功能介紹:
四質譜計是在高真空條件下,離子源的電子轟擊氣體分子使其離化。離子進入四過濾器按不同質荷比分離,采集離子流,放大後進行數據處理,獲得相應的質譜數據。四質譜計可安裝在使用者的高真空設備上進行殘氣分析,亦可配備適當的高真空係統和進樣裝置作為*立的硬汉视频最新官网器使用。離子流采集的常規結構為法拉弟筒 / 通道倍增器複合式(即 FC/CEM )。離子流放大器的輸入高阻設為10M Ω ,1G Ω,100G Ω 三擋,采用電子倍增器方式時一般選用 1G Ω高阻或 10M Ω高阻。儀器控製與數據處理係統適用於WindowsXP或 Windows2000,儀器提供模擬譜圖,棒狀譜圖和多達10個離子的多離子監測譜圖。數據係統的接口界麵由80C 196單片機(16位)以及 A/D、D/A 等構成, RS232 串口與電腦通訊實現儀器的控製與數據處理。儀器安裝方便,操作簡單,四質譜計**應用與真空科學、電子、半導體工業、石油化工的催化研究等多種領域。另外,本儀器可以派生為儀器,如,已用於計量部門作為鑒定分子漏孔的氦四質譜計。
四杆質譜儀指標:
範圍:1-100u,1-200u,1-300u
靈敏度:1×10-1A/Pa (對 N--2 ,帶CEM)
分辨率:△m<1( 10% 穀)
峰位穩定性: ±0.4u/4h
掃描速度: 100ms-30s/u
檢測器: FC,FC/CEM,或FC/MCP(FC-法拉弟筒, CEM 通道倍增器MCP-微通道板)
工作壓強:1×10-2Pa
烘烤溫度:300 ℃
接口法蘭: CF50,CF63
電子單元尺寸:240×150×150mm
四探頭伸入真空腔尺寸:
1-100u:φ 70X180mm
1-300u:φ 70X250mm